用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法的英文翻译

基本释义

• Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes