Abstract: The long-term anneal behavior of the integrated dose record s -threshold voltage of PMOS dosimeters at room temperature has been studi ed.
英
美
- 文摘:为掌握PMOS剂量计的应用方式并提高其应用精度,研究了PMOS剂量计的辐照剂量记录-阈电压在室温下的长期退火表现。