Magohov, S. N., Whangbo, M. H., Surface Analysis with STEM and AFM: Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis, VCH, Weinheim (1996).
英
美
- 林鹤南，李龙正，刘克迅，"原子力显微术及其在半导体研究上之应用，"科仪新知，第17卷第3期，第29页(1995).
