Utilizing the techniques such as X-Ray diffraction, Raman spectra, Comprehensive thermal analysis, SEM, EPMA, UV-Vis-Near IR and FTIR, and etc.

• 本文利用金相显微镜、X-射线衍射谱、拉曼散射谱、综合热分析、电子探针分析、紫外-可见-近红外光谱和红外光谱等技术对两个准三元体系GeS_2-Ga_2S_3-CdI_2、GeS_2-Ga_2S_3-PbI_2的组成、结构与性能关系进行了深入研究和分析,获得了下述主要结论: