光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的方法
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光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的方法的英文翻译
基本释义
Test Methods for Minority-Carrier Lifetime in Bulk Geranium and Silicon by Measurement of Photoconductivity Decay
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