原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析

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原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析的英文翻译

基本释义

Thickness Determination of Thin-film Samples Used in Atomic Innner-Shell Ionization Measurement by Rutherford Backscattering Spectrometry

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